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      首頁    角度衍射測量    KXR-4100系列雙轉角晶片測角機
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      KXR-4100系列雙轉角晶片測角機

      用于雙轉角石英晶片的角度測量。

      主要特點

       

      1. 采用低功率X射線源實現雙轉角晶片角度的精確測量。

      2. 可根據用戶指定的轉角范圍進行產品定制。

      3. 可根據用戶指定的晶片規格提供自動分類方案。

       

      統計功能

       

      —動態中心值指示

      —動態標準偏差值指示

      —測量數據列表顯示

      —模擬分選統計

       

      測量模式

       

      放置一個晶片,自動整理,自動掃描測量。


      技術參數

       

      KXR-4100

      Φ:18°30′0″- 26°00′0″

      θ:33°15′0″- 34°30′0″

      KXR-4102

      Φ:0°0′0″- 8°30′0″

      θ:34°15′0″- 35°45′0″

      外形尺寸(長寬高)

      725*715*1450mm

      重量

      198kg

      屏幕

      8英寸觸控屏

      輸入電源

      220V±10%,50-60Hz,0.65A

      輸入氣源

      0.5MPa,20L/min潔凈氣源

      衍射方式

      二級衍射 

      光路調整方式

      可控光軌調整裝置

      操作方式

      人工置片,自動整理±X方向辨識測量和分類

      靜態重復性測試標準偏差

      約3″(10次,不同角度晶片會有差異)

      可測量晶片規格

      X向:12-40mm,Z向:12-40mm

      數據呈現

      實時提供每片數據;數據以統計表  形式顯示在觸控屏上

      數據輸出

      提供以太網傳輸接口、SD卡 

       

       

       

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